平成30年 春期 エンベデッドシステムスペシャリスト 午前II 問4

JTAG(IEEE 1149.1)の説明として、適切なものはどれか。

 ア  組合せ回路のテスト生成方式
 イ  テストプローブを用いた導通テストの方法
 ウ  バウンダリスキャンテストの標準方式
 エ  ビルトインセルフテストの方式


答え ウ


解説
半導体技術の進歩により集積回路チップのピン間隔が狭くなりプローブを立てての検査が困難になってきたため、検査時に、チップ内部の回路を順番に読み出すバウンダリスキャンテスト(Boundary Scan Test)が考えだされ、それを規格化したものがJTAG(Joint Test Action Group)です。
半導体の検査だけでなく、組み込みシステムのソフトウェアのデバッグなどの目的でICEの一種として使うこともあります。


キーワード
・バウンダリスキャンテスト

キーワードの解説

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