JTAG(IEEE 1149.1)の説明として、適切なものはどれか。
| ア | 組合せ回路のテスト生成方式 |
| イ | テストプローブを用いた導通テストの方法 |
| ウ | バウンダリスキャンテストの標準方式 |
| エ | ビルトインセルフテストの方式 |
答え ウ
【解説】
半導体技術の進歩により集積回路チップのピン間隔が狭くなりプローブを立てての検査が困難になってきたため、検査時に、チップ内部の回路を順番に読み出すバウンダリスキャンテスト(Boundary Scan Test)が考えだされ、それを規格化したものがJTAG(Joint Test Action Group)です。
半導体の検査だけでなく、組み込みシステムのソフトウェアのデバッグなどの目的でICEの一種として使うこともあります。
【キーワード】
・バウンダリスキャンテスト
- バウンダリスキャンテスト(boundary scan testing)
バウンダリスキャンテストは、高密度で複雑な 電子回路の接続及びショートを、4本又は5本のJTAGバスを利用し、低コストでテストすることが出来る技術です。
これまでのインサーキットテスタに代わる手法として、発展してきたテスト技術になります。
もっと、「バウンダリスキャンテスト」について調べてみよう。
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